Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Measurement of semiconductor devices. Transistors. Measurement of output capacity in common base circuit
Automatische name übersetzung:
Messung von Halbleiterbauelementen. Transistoren. Messen der Ausgangsleistung der Verdrahtung in einer gemeinsamen Basis.
NORM herausgegeben am 1.11.1976
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN 358752
Zeichen: 358752
Katalog-Nummer: 59271
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.1976
SKU: NS-495891
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Letzte Aktualisierung: 2026-10-02 (Zahl der Positionen: 2 304 304)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.