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Measurement of semiconductor devices. Transistors. Measurement of short circuit input admittance in common emitter configuration at higher frequencies
Automatische name übersetzung:
Messung von Halbleiterbauelementen. Transistoren. Mess Eingangsadmittanz kurzen in der Verdrahtung zu dem gemeinsamen Emitter bei höheren Frequenzen.
NORM herausgegeben am 1.3.1970
| Realisierung |
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| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN 358753
Zeichen: 358753
Katalog-Nummer: 59272
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.3.1970
SKU: NS-495892
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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Letzte Aktualisierung: 2026-10-02 (Zahl der Positionen: 2 304 304)
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