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STN 358757-1 (358757)
Transistors. Measuring method of collector-base and emitter-base breakdown voltage
Automatische name übersetzung:
Transistoren. Verfahren zur Messung der Durchbruchspannung zwischen Kollektor und Basis und Emitter-Basis.
NORM herausgegeben am 1.1.1985
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN 358757-1
Zeichen: 358757
Katalog-Nummer: 59276
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1985
SKU: NS-495896
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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