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STN 358850-2 (358850)
Semiconductor radiation detectors. Main parameters measurement methods
Automatische name übersetzung:
Halbleiter-Strahlungsdetektoren. Verfahren zum Messen der Grundparameter.
NORM herausgegeben am 1.11.1984
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN 358850-2
Zeichen: 358850
Katalog-Nummer: 59338
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.1984
SKU: NS-495940
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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