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STN EN 60747-5-3 (358797)
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-3: Optoelectronic devices. Measuring methods
Automatische name übersetzung:
Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen. Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente. Messverfahren (IEC STN). (Der Standard kann ohne Änderung A1 2005.05.01 verwendet werden).
NORM herausgegeben am 1.4.2002
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE | |
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Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60747-5-3
Zeichen: 358797
Katalog-Nummer: 85946
Ausgabedatum normen: 1.4.2002
SKU: NS-528285
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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Änderung
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Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-3: Optoelectronic devices. Measuring methods
Änderung herausgegeben am 1.11.2002
Ausgewählte Ausführung: Englisch - Gedruckt (AUF ANFRAGE)
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