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STN EN 60749-20 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 20 : Beständigkeit von Kunststoff SMD -Gehäuse gegen die kombinierte Wirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme (IEC STN). (Gültig bis 01.09.2012 ).
NORM herausgegeben am 1.1.2004
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-20
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 92829
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.2004
SKU: NS-528303
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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