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STN EN 60749-23 (358799)
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 23: Lebenserwartung bei hoher Temperatur (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.10.2004
| Sprache | |
| Realisierung |
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| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE | |
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Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-23
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 96505
Ausgabedatum normen: 1.10.2004
SKU: NS-528311
Zahl der Seiten: 29
Gewicht ca.: 87 g (0.19 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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Änderung
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Änderung herausgegeben am 1.6.2011
Ausgewählte Ausführung: Englisch - Gedruckt (AUF ANFRAGE)
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