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STN EN 60749-30:2005/A1 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 30: Pre- Behandlung von nicht- hermetische Oberflächenmontagekomponenten, bevor die Prüfung der Zuverlässigkeit (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.11.2011
| Zugänglichkeit | Ausverkauft |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-30:2005/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 114227
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
SKU: NS-528321
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
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