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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
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NORM herausgegeben am 1.10.2017
| Sprache | |
| Realisierung |
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| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-4
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 125484
Ausgabedatum normen: 1.10.2017
SKU: NS-797483
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Letzte Aktualisierung: 2026-04-06 (Zahl der Positionen: 2 271 069)
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