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STN EN 62047-16 (358792)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films ÔÇô Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 16: Prüfverfahren zur Bestimmung Rest ' Spannungsschicht auf MEMS (IEC STN) freitragend.
NORM herausgegeben am 1.12.2015
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 62047-16
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 121888
Ausgabedatum normen: 1.12.2015
SKU: NS-621879
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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