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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module
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NORM herausgegeben am 1.11.2025
| Sprache | |
| Realisierung |
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| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN IEC 60749-34-1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 141257
Ausgabedatum normen: 1.11.2025
SKU: NS-1246925
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Letzte Aktualisierung: 2025-11-24 (Zahl der Positionen: 2 248 352)
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