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Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.
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NORM herausgegeben am 1.2.2020
Bezeichnung normen: VDI/VDE 2655Blatt1.3
Ausgabedatum normen: 1.2.2020
SKU: NS-981608
Zahl der Seiten: 50
Gewicht ca.: 150 g (0.33 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen VDI
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.
Letzte Aktualisierung: 2026-02-03 (Zahl der Positionen: 2 259 855)
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