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ASTM F396-00(2004) Historisch

Standard Practice for Comparing One-Time Noncorrectable Typewriter Ribbons

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.12.2004

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ASTM F396-00(2009) Historisch

Standard Practice for Comparing One-Time Noncorrectable Typewriter Ribbons (Withdrawn 2015)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2009

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ASTM F397-02 Historisch

Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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ASTM F397-93(1999) Historisch

Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1999

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ASTM F398-92(1997) Historisch

Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.1997

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ASTM F398-92(2002) Historisch

Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.5.1992

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ASTM F399-00a Historisch

Standard Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers (Withdrawn 2002) (Includes all amendments And changes 2/18/2021).

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2000

Ausgewählte Ausführung:
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ASTM F4-66(1999) Historisch

Standard Specification for Carbonized Nickel Strip and Carbonized Nickel-Plated and Nickel-Clad Steel Strip for Electron Tubes

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1999

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ASTM F4-66(2005) Historisch

Standard Specification for Carbonized Nickel Strip and Carbonized Nickel-Plated and Nickel-Clad Steel Strip for Electron Tubes (Withdrawn 2010)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.2005

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Ansicht ASTM F40-83 1.1.1900
ASTM F40-83 Historisch

Method for Preparing Monocrystalline Test Ingots of Silicon by the Vertical-Pulling (Czochralski) Technique (Withdrawn 1988)

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