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ASTM F766-82(2000)e1 Historisch

Standard Test Method for Melting Point of Waxes (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.2.2000

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67.50


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ASTM F766-82(2005) Historisch

Standard Test Method for Melting Point of Waxes

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2005

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67.50


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ASTM F766/F766M-82(2010)e1 Historisch

Standard Test Method for Melting Point of Waxes (Withdrawn 2016) (Includes all amendments And changes 5/4/2016).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2010

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ASTM F767-98 Historisch

Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.2.1998

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67.50


in 1 Werktagen
ASTM F767-98(2002) Historisch

Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.2.1998

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ASTM F767-98(2008) Historisch

Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.2008

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ASTM F767-98(2013) Historisch

Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light (Withdrawn 2020)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2013

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ASTM F768-82(1987) Historisch

Method for Specular Reflectance and Transmittance Measurements of Optically Flat-Coated and Non-Coated Specimens (Withdrawn 1994)

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in 1 Werktagen
ASTM F768-82(1987)e1 Historisch

Method for Specular Reflectance and Transmittance Measurements of Optically Flat-Coated and Non-Coated Specimens (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1987

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75.40


in 1 Werktagen
ASTM F769-00 Historisch

Standard Test Method for Measuring Transistor and Diode Leakage Currents (Withdrawn 2006)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2000

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67.50


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