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ASTM F949-09 Historisch

Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2009

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83.80


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ASTM F949-10 Historisch

Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2010

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ASTM F949-15 Historisch

Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2015

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ASTM F949-15(2019) Historisch

Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2019

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ASTM F949-20 Historisch

Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.2.2020

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83.80


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ASTM F95-89(2000) Historisch

Standard Test Method for Thickness of Lightly Doped Silicon Epitaxial Layers on Heavily Doped Silicon Substrates Using an Infrared Dispersive Spectrophotometer (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.2000

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75.10


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ASTM F950-02 Historisch

Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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ASTM F950-98 Historisch

Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.5.1998

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ASTM F951-01 Historisch

Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.1.2002

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ASTM F951-02 Historisch

Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.1.2002

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