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Standard Consumer Safety Specification for Infant Walkers
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2012
Ausgewählte Ausführung:Standard Consumer Safety Specification for Infant Walkers
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2018
Ausgewählte Ausführung:Standard Consumer Safety Specification for Infant Walkers
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.6.2022
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Characterizing Semiconductor Deep Levels by Transient Capacitance Techniques (Withdrawn 2003)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.1.2001
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Characterizing Semiconductor Deep Levels by Transient Capacitance Techniques (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.1.2001
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Hermeticity of Hybrid Microcircuit Packages Prior to Lidding (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.5.1998
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Hermeticity of Hybrid Microcircuit Packages Prior to Lidding (Withdrawn 2009)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.5.1998
Ausgewählte Ausführung:Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Withdrawn 1990)
Ausgewählte Ausführung:Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1977
Ausgewählte Ausführung:Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1977
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-06-21 (Zahl der Positionen: 2 283 476)
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