ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 7571

Normen ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 7571

ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.

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ASTM F139-00 Historisch

Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2000

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ASTM F139-03 Historisch

Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2003

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ASTM F139-08 Historisch

Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2008

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ASTM F139-12 Historisch

Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2012

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ASTM F1390-02 Historisch

Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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ASTM F1390-97 Historisch

Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.1997

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ASTM F1391-93(2000) Historisch

Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2000

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ASTM F1392-00 Historisch

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2000

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ASTM F1392-02 Historisch

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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76.60


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ASTM F1393-02 Historisch

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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