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ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.
Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2000
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2003
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2008
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2012
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.1997
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 2003)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2000
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2000
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2024-05-17 (Zahl der Positionen: 2 902 148)
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