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ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.
Standard Terminology for Surgical Scissors-Inserted and Non-Inserted Blades
UNGÜLTIG herausgegeben am 25.9.1987
Ausgewählte Ausführung:Standard Terminology for Surgical Scissors´Inserted and Non-Inserted Blades
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2008
Ausgewählte Ausführung:Standard Terminology for Surgical Scissors´Inserted and Non-Inserted Blades (Includes all amendments And changes 12/31/2010).
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2008
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Inserted and Noninserted Surgical Scissors
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1998
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Inserted and Noninserted Surgical Scissors
UNGÜLTIG herausgegeben am 25.9.1987
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Inserted and Noninserted Surgical Scissors
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2008
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Inserted and Noninserted Surgical Scissors (Includes all amendments And changes 11/28/2014).
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2008
Ausgewählte Ausführung:Standard Specification for Inserted and Noninserted Surgical Scissors
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2014
Ausgewählte Ausführung:Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Withdrawn 1993)
Ausgewählte Ausführung:Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-06-22 (Zahl der Positionen: 2 284 351)
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