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ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8053

Normen ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8053

ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.

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Ansicht ASTM F1259M-96 1.1.1996 Normansicht
ASTM F1259M-96 Historisch

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1996

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ASTM F1259M-96(2003) Historisch

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.1996

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Ansicht ASTM F126 1.1.1900
ASTM F126 Historisch

Definitions of Terms Relating to Which Relate to the Use and Testing of Ferrite Memory Cores and Memory Core Arrays (Withdrawn 1976)

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Ansicht ASTM F1260-89 1.1.1989 Normansicht
ASTM F1260-89 Historisch

Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1989

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ASTM F1260M-96 Historisch

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1996

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ASTM F1260M-96(2003) Historisch

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.1996

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ASTM F1261M-96 Historisch

Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1996

Ausgewählte Ausführung:
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Ansicht ASTM F1261M-96(2003) 10.6.1996 Normansicht
ASTM F1261M-96(2003) Historisch

Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] (Withdrawn 2009)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.1996

Ausgewählte Ausführung:
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ASTM F1262M-14 Historisch

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2014

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ASTM F1262M-95 Historisch

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.11.1995

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