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ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8120

Normen ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8120

ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.

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ASTM F1616-95(2002) Historisch

Standard Guide for Scope of Performance of First Responders Who Practice in the Wilderness or Delayed or Prolonged Transport Settings

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.8.1995

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ASTM F1616-95(2009) Historisch

Standard Guide for Scope of Performance of First Responders Who Practice in the Wilderness or Delayed or Prolonged Transport Settings

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.3.2009

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ASTM F1616-95(2016) Historisch

Standard Guide for Scope of Performance of First Responders Who Practice in the Wilderness or Delayed or Prolonged Transport Settings (Withdrawn 2025)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2016

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ASTM F1617-98 Historisch

Standard Test Method for Measuring Surface Sodium, Aluminum, Potassium, and Iron on Silicon and EPI Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.5.1998

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ASTM F1617-98(2002) Historisch

Standard Test Method for Measuring Surface Sodium, Aluminum, Potassium, and Iron on Silicon and EPI Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.5.1998

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ASTM F1618-02 Historisch

Standard Practice for Determination of Uniformity of Thin Films on Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.5.2002

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ASTM F1618-96 Historisch

Standard Practice for Determination of Uniformity of Thin Films on Silicon Wafers

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1996

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ASTM F1619-95(2000) Historisch

Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.9.1995

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ASTM F1619-95(2000)e1 Historisch

Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.9.1995

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ASTM F1620-96 Historisch

Standard Practice for Calibrating a Scanning Surface Inspection System Using Monodisperse Polystyrene Latex Spheres Deposited on Polished or Epitaxial Wafer Surfaces (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1996

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Letzte Aktualisierung: 2026-04-24 (Zahl der Positionen: 2 274 650)
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