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ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8128

Normen ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8128

ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.

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Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy (Withdrawn 2003)

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ASTM F1723-96 Historisch

Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy

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ASTM F1724-01 Historisch

Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy (Withdrawn 2003)

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ASTM F1724-96 Historisch

Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2001

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ASTM F1725-02 Historisch

Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots (Withdrawn 2003)

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Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots

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ASTM F1726-02 Historisch

Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

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ASTM F1726-97 Historisch

Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers

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ASTM F1727-02 Historisch

Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers

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