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ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.
Test Method for Measuring Diameter of Semiconductor Wafers (Withdrawn 2001)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1993
Ausgewählte Ausführung:Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Withdrawn 1996)
Ausgewählte Ausführung:Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1991
Ausgewählte Ausführung:Practice for Determining Safe Current Pulse Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Withdrawn 1995)
Ausgewählte Ausführung:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.5.1995
Ausgewählte Ausführung:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.5.1995
Ausgewählte Ausführung:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric)
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.6.2008
Ausgewählte Ausführung:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric) (Withdrawn 2022)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2013
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1992
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.1996
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-02-13 (Zahl der Positionen: 2 260 752)
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