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Normen SAE - Amerikanische Normen - Seite Nr. 4374

SAE – die Gesellschaft SAE International ist eine weltweite Gemeinschaft von mehr als 128.000 Ingenieuren und ähnlichen technischen Spezialisten aus der kosmischen Industrie und Flugindustrie, Automobilindustrie und Industrie mit Nutzfahrzeugen. Die Haupttätigkeit der Gesellschaft SAE International ist das lebenslange Studium und Normentwicklung auf dem Prinzip des gegenseitigen Konsensus. Die Gesellschaft SAE International hat eigene wohltätige Stiftung SAE (SAE Foundation), die viele Programme unterstützt, inkl. des Programms Die Welt in Bewegung (A World In Motion®) und des Programms Die Schulprojekte (Collegiate Design Series).

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SAE J175 Nicht mehr aktuell

Wheels - Lateral Impact Test Procedure - Road Vehicles

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.7.2021

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SAE J175 Nicht mehr aktuell

WHEELS — PASSENGER CARS — IMPACT PERFORMANCE REQUIREMENTS AND TEST PROCEDURES

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.9.1970

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SAE J175 Nicht mehr aktuell

Wheels—Impact Test Procedure—Road Vehicles

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.9.2003

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SAE J1750 Nicht mehr aktuell

Describing and Evaluating the Truck Driver´s Viewing Environment

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.10.2010

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SAE J1750 Nicht mehr aktuell

DESCRIBING AND EVALUATING THE TRUCK DRIVER´S VIEWING ENVIRONMENT

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.3.1995

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SAE J1752/1 Nicht mehr aktuell

Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for Integrated Circuits—Integrated Circuit EMC Measurement Procedures—General and Definitions

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.10.2006

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SAE J1752/1 Nicht mehr aktuell

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY MEASUREMENT PROCEDURES FOR INTEGRATED CIRCUITS—INTEGRATED CIRCUIT EMC MEASUREMENT PROCEDURES—GENERAL AND DEFINITIONS

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.3.1997

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SAE J1752/1 Nicht mehr aktuell

Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for Integrated Circuits - Integrated Circuit EMC Measurement Procedures - General and Definitions

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.5.2016

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SAE J1752/2 Nicht mehr aktuell

Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.1.2003

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SAE J1752/2 Nicht mehr aktuell

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY MEASUREMENT PROCEDURES FOR INTEGRATED CIRCUITS—INTEGRATED CIRCUIT RADIATED EMISSIONS DIAGNOSTIC PROCEDURE 1 MHZ TO 1000 MHZ, MAGNETIC FIELD—LOOP PROBE

Nicht mehr aktuell herausgegeben am 1.3.1995

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