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BSi – die Gesellschaft BSi British Standards ist eine nationale Standardisierungsbehörde in Großbritannien (NSB) und als solche war sie die erste in der Welt. Sie vertritt wirtschaftliche und gesellschaftliche Interessen von Großbritannien in allen europäischen und internationalen Standardisierungsorganisationen auch im Rahmen der Entwicklung neuer Lösungen von betrieblichen Informationen für britische Organisationen aller Größen und Branchen. Die Gesellschaft BSi British Standards arbeitet mit Produktionsindustrie sowie mit Dienstleistungsindustrie, mit Betrieben, Regierungen und Verbrauchern zusammen, um die Bildung der britischen, europäischen und internationalen Normen zu erleichtern. Ein Bestandteil der Organisation BSI Group, die Gesellschaft BSI British Standards, arbeitet mit der Regierung Großbritanniens eng zusammen, insbesondere mittels der Abteilung für Innovationen, Universitäten und Fertigkeiten (DIUS).
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Ambient-rated bipolar transistors for low and high-frequency amplification.
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.2.1990
Ausgewählte Ausführung:Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Case-rated bipolar transistors for low-frequency amplification.
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.2.1990
Ausgewählte Ausführung:Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Bipolar transistors for switching applications.
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.11.1991
Ausgewählte Ausführung:Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Case-rated bipolar transistors for high-frequency amplifications.
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.11.1991
Ausgewählte Ausführung:Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Rectifier diodes (including avalanche rectifier diodes), ambient and case-rated, up to 100 A.
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.2.1990
Ausgewählte Ausführung:Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, up to 100 A.
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.2.1990
Ausgewählte Ausführung:Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Bidirectional triode thyristors (triacs), ambient or case-rated, up to 100 A.
UNGÜLTIG herausgegeben am 31.1.1992
Ausgewählte Ausführung:Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Semiconductor devices. Discrete devices. Field-effect transistors. Blank detail specification for single-gate field-effect transistors, up to 5 W and 1 GHz.
UNGÜLTIG herausgegeben am 15.12.1988
Ausgewählte Ausführung:General criteria for the assessment of testing laboratories.
UNGÜLTIG herausgegeben am 31.10.1989
Ausgewählte Ausführung:General criteria for laboratory accreditation bodies.
UNGÜLTIG herausgegeben am 31.10.1989
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-07-05 (Zahl der Positionen: 2 286 116)
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