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GB/T 14139-2009 UNGÜLTIG

Silicon epitaxial wafers

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.10.2009

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346.40 €


in 3 Werktagen
GB/T 1414-1978 UNGÜLTIG

General purpose screw threads for joints on pipe line--Dimensions

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.8.1978

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AUF ANFRAGE


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GB/T 1414-2003 UNGÜLTIG

General purpose metric screw threads—The plan for pipe systems

UNGÜLTIG herausgegeben am 22.5.2003

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216.10 €


in 2 Werktagen
GB/T 14140-2009 UNGÜLTIG

Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.10.2009

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248.70 €


in 3 Werktagen
GB/T 14140.1-1993 UNGÜLTIG

Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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216.10 €


in 2 Werktagen
GB/T 14140.2-1993 UNGÜLTIG

Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Micrometer method

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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216.10 €


in 2 Werktagen
GB/T 14141-1993 UNGÜLTIG

Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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259.50 €


in 2 Werktagen
GB/T 14142-1993 UNGÜLTIG

Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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302.90 €


in 3 Werktagen
GB/T 14143-1993 UNGÜLTIG

300900m Silicon slices—Measuring of interstitial oxygen content—Infrared absorption method

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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259.50 €


in 2 Werktagen
GB/T 14144-1993 UNGÜLTIG

Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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216.10 €


in 2 Werktagen

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