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GB/T 17473.2-2008 UNGÜLTIG

Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness

UNGÜLTIG herausgegeben am 31.3.2008

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75.10 €


AUF LAGER
GB/T 17473.3-1998 UNGÜLTIG

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of sheet resistance

UNGÜLTIG herausgegeben am 19.8.1998

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299.30 €


in 3 Werktagen
GB/T 17473.3-2008 UNGÜLTIG

Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance

UNGÜLTIG herausgegeben am 31.3.2008

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181.30 €


in 3 Werktagen
GB/T 17473.4-1998 UNGÜLTIG

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of adhesion

UNGÜLTIG herausgegeben am 19.8.1998

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256.40 €


in 2 Werktagen
GB/T 17473.4-2008 UNGÜLTIG

Test methods of precious metals pastes used for microelectronics - Determination of adhesion

UNGÜLTIG herausgegeben am 31.3.2008

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149.10 €


in 3 Werktagen
GB/T 17473.5-1998 UNGÜLTIG

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of viscosity

UNGÜLTIG herausgegeben am 19.8.1998

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213.50 €


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GB/T 17473.5-2008 UNGÜLTIG

Test methods of pastes used for microelectronics - Determination of viscosity

UNGÜLTIG herausgegeben am 31.3.2008

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107.30 €


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GB/T 17473.6-1998 UNGÜLTIG

Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics—Determination of resolution

UNGÜLTIG herausgegeben am 19.8.1998

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in 2 Werktagen
GB/T 17473.6-2008 UNGÜLTIG

Test methods of precious metal pastes used for microelectronics - Determination of resolution

UNGÜLTIG herausgegeben am 31.3.2008

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149.10 €


in 3 Werktagen
GB/T 17473.7-1998 UNGÜLTIG

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Test of solderability and solderleaching resistance

UNGÜLTIG herausgegeben am 19.8.1998

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256.40 €


in 2 Werktagen

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