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GB 6620-1986 UNGÜLTIG

Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1986

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GB/T 6620-1995 UNGÜLTIG

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

UNGÜLTIG herausgegeben am 18.4.1995

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GB 6621-1986 UNGÜLTIG

Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1986

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GB/T 6621-1995 UNGÜLTIG

Test methods for surface flatness of silicon polished slices

UNGÜLTIG herausgegeben am 18.4.1995

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GB 6622-1986 UNGÜLTIG

Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1986

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GB 6623-1986 UNGÜLTIG

Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1986

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GB 6624-1986 UNGÜLTIG

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon wafers by visual examination

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1986

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GB/T 6624-1995 UNGÜLTIG

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

UNGÜLTIG herausgegeben am 18.4.1995

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GB/T 6625-1986 UNGÜLTIG

Test methods for nitrogen content of nitrogen-doped getter

UNGÜLTIG herausgegeben am 25.7.1986

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GB/T 6626.1-1986 UNGÜLTIG

Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser—Test methods for mercury yield characteristic of getter-mercury dispenser

UNGÜLTIG herausgegeben am 26.7.1986

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