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Test method for thermal shock of electronic glass
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Test method for softening point of electronic glass
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Test method for annealing point and strain point of electronic glass
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Test method for viscosity of electronic glass while high temperature
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Test method for impact resistance strength of electronic glass
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Test method for temperature (Tk-100) -- volume resistivity of electronic glass
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Test method for high frequency dielectric losses and dielectric constant of electronic glass
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988
Ausgewählte Ausführung:Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 1:Generic specification
UNGÜLTIG herausgegeben am 30.6.1988
Ausgewählte Ausführung:Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 2: sectional specification: Magnetic oxide cores for inductor applications
UNGÜLTIG herausgegeben am 30.6.1988
Ausgewählte Ausführung:Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 2:Blank detail specification: Magnetic oxide cores for inductor applications--Assessment level A
UNGÜLTIG herausgegeben am 30.6.1988
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-05-04 (Zahl der Positionen: 2 275 493)
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