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GB 9622.3-1988 UNGÜLTIG

Test method for thermal shock of electronic glass

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988

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204.10


in 2 Werktagen
GB 9622.4-1988 UNGÜLTIG

Test method for softening point of electronic glass

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988

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204.10


in 2 Werktagen
GB 9622.5-1988 UNGÜLTIG

Test method for annealing point and strain point of electronic glass

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988

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204.10


in 2 Werktagen
GB 9622.6-1988 UNGÜLTIG

Test method for viscosity of electronic glass while high temperature

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988

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204.10


in 2 Werktagen
GB 9622.7-1988 UNGÜLTIG

Test method for impact resistance strength of electronic glass

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988

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204.10


in 2 Werktagen
GB 9622.8-1988 UNGÜLTIG

Test method for temperature (Tk-100) -- volume resistivity of electronic glass

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988

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204.10


in 2 Werktagen
GB 9622.9-1988 UNGÜLTIG

Test method for high frequency dielectric losses and dielectric constant of electronic glass

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1988

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204.10


in 2 Werktagen
GB/T 9623-1988 UNGÜLTIG

Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 1:Generic specification

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.6.1988

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450.20


in 3 Werktagen
GB/T 9624-1988 UNGÜLTIG

Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 2: sectional specification: Magnetic oxide cores for inductor applications

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.6.1988

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327.10


in 3 Werktagen
GB/T 9625-1988 UNGÜLTIG

Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 2:Blank detail specification: Magnetic oxide cores for inductor applications--Assessment level A

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.6.1988

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327.10


in 3 Werktagen

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