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GB/Z 41270.6-2026

Process management for avionics—Atmospheric radiation effects—Part 6:Potential impacts of extreme space weather on the avionics environment and electronic equipment

Die Norm herausgegeben am 2.7.2026

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GB/T 41400-2026

Cybersecurity technology—Cybersecurity protection capability maturity model of industrial control systems
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 2.7.2026

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GB/T 41638.4-2026

Plastics—Carbon and environmental footprint of biobased plastics—Part 4:Environmental (total) footprint (Lifecycle assessment
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 30.7.2026

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GB/T 41850.2-2026

Mechanical vibration—Measurement and evaluation of machine vibration—Part 2: Land-based gas turbines, steam turbines and generators in excess of 40 MW, with fluid-film bearings and rated speeds of 1 500 r/min,1 800 r/min,3 000 r/min and 3600 r/min
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 30.7.2026

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GB/T 41850.5-2026

Mechanical vibration—Measurement and evaluation of machine vibration—Part 5: Machine sets in hydraulic power generating and pump-storage plants
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 30.7.2026

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GB/T 42236.2-2026

Electric bicycles centralized charging facilities—Part 2: Charging and battery swapping service information exchange
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 2.7.2026

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GB/T 42709.12-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 30.7.2026

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GB/T 42709.21-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 21: Test method for Poisson""s ratio of thin film MEMS materials
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 30.7.2026

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GB/T 42709.22-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 30.7.2026

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GB/T 42709.35-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
Execute Date: february 2027

Die Norm herausgegeben am 30.7.2026

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