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GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 1830

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 1830

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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GB/T 24573-2009

Fire resistance tests for vault and file room doors

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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GB/T 24574-2009

Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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GB/T 24575-2009

Test method for measuring surface sodium,aluminum,potassium,and iron on silicon and epi substrates by secondary ion mass spectrometry

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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GB/T 24576-2009

Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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GB/T 24577-2009

Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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GB/T 24578-2024

Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 24.7.2024

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GB/T 24579-2009

Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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GB/T 24580-2009

Test method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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GB/T 24581-2022

Test method for and impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

Die Norm herausgegeben am 9.3.2022

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GB/T 24582-2023

Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method

Die Norm herausgegeben am 6.8.2023

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