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Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:
GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument
Hexamethylene diisocyanate
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Smart city—Terminology
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Information security technology—Security reference model and generic requirements for internet of things
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Information technology — Biometrics—Fingerprint processing chip technical requirements
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Information security techniques —Assessment criteria for disaster recovery service capability
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Cloud-to-ground lightning density based on lightning location systems(LLS)—General principles
Die Norm herausgegeben am 11.7.2022
Ausgewählte Ausführung:Technical specification for lightning protection of expressway electromechanical systems
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Test method for the content of metal impurity in electronic grade polysilicon—Inductively coupled-plasma mass spectrometry method
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Fastening screw thread gaging systems for acceptability
Die Norm herausgegeben am 25.3.2019
Ausgewählte Ausführung:Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
Die Norm herausgegeben am 28.12.2018
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-04-19 (Zahl der Positionen: 2 274 482)
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