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GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 362

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 362

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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Ungültige (38043)

Ansicht GB/T 1413-2023 17.3.2023

GB/T 1413-2023

Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings

Die Norm herausgegeben am 17.3.2023

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Ansicht GB/T 14139-2019 4.6.2019

GB/T 14139-2019

Silicon epitaxial wafers

Die Norm herausgegeben am 4.6.2019

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Ansicht GB 1414-1979 1.1.1979

GB 1414-1979

-

Die Norm herausgegeben am 1.1.1979

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Ansicht GB/T 1414-2013 9.6.2013

GB/T 1414-2013

General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems

Die Norm herausgegeben am 9.6.2013

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Ansicht GB/T 14140-2025 1.8.2025

GB/T 14140-2025

Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

Die Norm herausgegeben am 1.8.2025

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Ansicht GB/T 14141-2009 30.10.2009

GB/T 14141-2009

Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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Ansicht GB/T 14142-2017 29.9.2017

GB/T 14142-2017

Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique

Die Norm herausgegeben am 29.9.2017

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Ansicht GB/T 14144-2009 30.10.2009

GB/T 14144-2009

Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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Ansicht GB/T 14146-2021 21.5.2021

GB/T 14146-2021

Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method

Die Norm herausgegeben am 21.5.2021

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Ansicht GB/T 14148-2011 16.6.2011

GB/T 14148-2011

Glass blank of ophthalmic lenses

Die Norm herausgegeben am 16.6.2011

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Letzte Aktualisierung: 2026-06-18 (Zahl der Positionen: 2 283 376)
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