GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 375

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 375

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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GB/T 14118-2026

Harmonic drive reducers
Execute Date: april 2027

Die Norm herausgegeben am 28.9.2026

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Nicht auf Lager
GB/T 14119-1993

Blankdetail specification for semiconductor inte-grated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories

Die Norm herausgegeben am 21.1.1993

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450.30 €


in 3 Werktagen
GB/T 14123-2012

Mechanical shock - Testing machines - Characteristics and performance

Die Norm herausgegeben am 5.11.2012

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573.90 €


in 3 Werktagen
GB/T 14124-2024

Mechanical vibration and shock—Vibration of fixed structures—Guidelines for the measurement of vibrations and evaluation of their effects on structures

Die Norm herausgegeben am 31.12.2024

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896.30 €


in 6 Werktagen
GB/T 1413-2023

Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings

Die Norm herausgegeben am 17.3.2023

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343.90 €


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GB/T 14139-2019

Silicon epitaxial wafers

Die Norm herausgegeben am 4.6.2019

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213.90 €


in 3 Werktagen
AUF ANFRAGE


Nicht auf Lager
GB/T 1414-2013

General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems

Die Norm herausgegeben am 9.6.2013

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160.10 €


in 2 Werktagen
GB/T 14140-2025

Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

Die Norm herausgegeben am 1.8.2025

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224.60 €


in 3 Werktagen
GB/T 14141-2009

Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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246.10 €


in 3 Werktagen

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