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GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 4442

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 4442

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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GB/T 45716.1-2026

Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs
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GB/T 45717-2025

Information technology—Software measurement—Software quality measurement—Automated source code quality measures

Die Norm herausgegeben am 30.5.2025

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GB/T 45718-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

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GB/T 45719-2025

Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors

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GB/T 45720-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

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Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1: Copper stress migration test

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GB/T 45722-2025

Semiconductor devices—Constant current electromigration test

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GB/T 45723-2025

Test method for printed board—Monitoring of single plated-through hole(PTH) resistance change during temperature cycling

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GB/T 45724-2025

Design methods for satellite-earth data transmission link of remote sensing satellites

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GB/T 45725-2025

Visible to short-wave infrared spectral reflectance measurement of crops

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