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Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:
GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument
Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of chromium sesquioxide content--Diphenyl carbazide photometric method
Die Norm herausgegeben am 5.2.2004
Ausgewählte Ausführung:Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of cupric oxide content--29-Dimethyl-110 phenanthroline photometric method
Die Norm herausgegeben am 5.2.2004
Ausgewählte Ausführung:Chemical reagent - Ammonium iron(II) sulfate hexahydrate
Die Norm herausgegeben am 12.5.2011
Ausgewählte Ausführung:Terminology and atlas for titanium and titanium alloys
Die Norm herausgegeben am 5.10.2025
Ausgewählte Ausführung:Titanium and titanium alloy castings
Die Norm herausgegeben am 3.9.2014
Ausgewählte Ausführung:Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
Die Norm herausgegeben am 6.8.2023
Ausgewählte Ausführung:Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
Die Norm herausgegeben am 30.10.2009
Ausgewählte Ausführung:Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices
Die Norm herausgegeben am 30.10.2009
Ausgewählte Ausführung:Test methods for bow of silicon wafers
Die Norm herausgegeben am 30.10.2009
Ausgewählte Ausführung:Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning
Die Norm herausgegeben am 30.10.2009
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-08-31 (Zahl der Positionen: 2 298 959)
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