GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 5249

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 5249

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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GB/T 6609.8-2004

Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of chromium sesquioxide content--Diphenyl carbazide photometric method

Die Norm herausgegeben am 5.2.2004

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143.80


in 2 Werktagen
GB/T 6609.9-2004

Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of cupric oxide content--29-Dimethyl-110 phenanthroline photometric method

Die Norm herausgegeben am 5.2.2004

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143.80


in 2 Werktagen
GB/T 661-2011

Chemical reagent - Ammonium iron(II) sulfate hexahydrate

Die Norm herausgegeben am 12.5.2011

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216.20


in 3 Werktagen
GB/T 6611-2025

Terminology and atlas for titanium and titanium alloys

Die Norm herausgegeben am 5.10.2025

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950.80


in 7 Werktagen
GB/T 6614-2014

Titanium and titanium alloy castings

Die Norm herausgegeben am 3.9.2014

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155.20


AUF LAGER
GB/T 6616-2023

Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge

Die Norm herausgegeben am 6.8.2023

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278.30


in 3 Werktagen
GB/T 6617-2009

Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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195.50


in 3 Werktagen
GB/T 6618-2009

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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236.90


in 3 Werktagen
GB/T 6619-2009

Test methods for bow of silicon wafers

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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268.00


in 3 Werktagen
GB/T 6620-2009

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

Die Norm herausgegeben am 30.10.2009

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236.90


in 3 Werktagen

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