GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 5511

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 5511

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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GB/T 15497-2003 UNGÜLTIG

Enterprise standard system—Technical standard system

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.9.2003

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GB/T 15498-1995 UNGÜLTIG

Enterprise standard system Structure and requirements for adminislratice frameuork Standard and duty frauieuork

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.3.1995

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GB/T 15498-2003 UNGÜLTIG

Enterprise standard system—Administrative standard system and duty standard system

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.9.2003

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GB/T 155-1995 UNGÜLTIG

Defects in logs

UNGÜLTIG herausgegeben am 8.12.1995

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GB/T 155-2006 UNGÜLTIG

Defects in logs

UNGÜLTIG herausgegeben am 12.7.2006

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GB/T 1550-1997 UNGÜLTIG

Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials

UNGÜLTIG herausgegeben am 3.6.1997

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GB/T 15500-1995 UNGÜLTIG

Methods of random sampling by utilizing electronic sampler of random number

UNGÜLTIG herausgegeben am 4.1.1995

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GB/T 15509-1995 UNGÜLTIG

Series and products for semiconductor integrated circuits—Products of robot series for Color TV

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.3.1995

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GB/T 1551-1995 UNGÜLTIG

Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe

UNGÜLTIG herausgegeben am 18.4.1995

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GB/T 1551-2009 UNGÜLTIG

Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.10.2009

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Angezeigter Eintrag von 55100 bis 55110 aus gesamt 73770 Einträgen.


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