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GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 6264

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 6264

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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Gültige (55838)

Ungültige (39244)

Ansicht GB/T 14139-2009 30.10.2009

GB/T 14139-2009 UNGÜLTIG

Silicon epitaxial wafers

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.10.2009

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Ansicht GB/T 1414-1978 15.8.1978

GB/T 1414-1978 UNGÜLTIG

General purpose screw threads for joints on pipe line--Dimensions

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.8.1978

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Ansicht GB/T 1414-2003 22.5.2003

GB/T 1414-2003 UNGÜLTIG

General purpose metric screw threads—The plan for pipe systems

UNGÜLTIG herausgegeben am 22.5.2003

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Ansicht GB/T 14140-2009 30.10.2009

GB/T 14140-2009 UNGÜLTIG

Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.10.2009

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Ansicht GB/T 14140.1-1993 6.2.1993

GB/T 14140.1-1993 UNGÜLTIG

Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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Ansicht GB/T 14140.2-1993 6.2.1993

GB/T 14140.2-1993 UNGÜLTIG

Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Micrometer method

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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Ansicht GB/T 14141-1993 6.2.1993

GB/T 14141-1993 UNGÜLTIG

Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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Ansicht GB/T 14142-1993 6.2.1993

GB/T 14142-1993 UNGÜLTIG

Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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Ansicht GB/T 14143-1993 6.2.1993

GB/T 14143-1993 UNGÜLTIG

300900m Silicon slices—Measuring of interstitial oxygen content—Infrared absorption method

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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Ansicht GB/T 14144-1993 6.2.1993

GB/T 14144-1993 UNGÜLTIG

Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon

UNGÜLTIG herausgegeben am 6.2.1993

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Letzte Aktualisierung: 2026-11-02 (Zahl der Positionen: 2 209 038)
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