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DIN – ist geschützte Bezeichnung der deutschen nationalen technischen Normen.
Optical amplifiers - Part 3-2: Test methods for noise figure parameters - Electrical spectrum analyzer method.
(Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 3-2: Prüfverfahren für Rauschzahlparameter; Verfahren mit elektrischem Spektralanalysator.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2003
Ausgewählte Ausführung:
Optical amplifier test methods - Part 3-2: Noise figure parameters - Electrical spectrum analyzer method.
(Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 3-2: Rauschzahlparameter - Verfahren mit elektrischem Spektralanalysator.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.2008
Ausgewählte Ausführung:
Optical amplifiers - Test methods - Part 3-3: Noise figure parameters - Signal power to total ASE power ratio.
(Lichtwellenleiter-Verstärker - Prüfverfahren - Teil 3-3: Rauschzahlparameter - Verhältnis der Signalleistung zur Gesamt-ASE-Leistung.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2012
Ausgewählte Ausführung:
Optical fibre amplifiers - Basic specification - Part 3: Test methods for noise figure parameters.
(Lichtwellenleiter-Verstärker - Grundspezifikation - Teil 3: Prüfverfahren für Rauschzahlparameter.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2001
Ausgewählte Ausführung:
Optical amplifiers - Test methods - Part 3: Noise figure parameters.
(Lichtwellenleiter-Verstärker - Prüfverfahren - Teil 3: Rauschzahlparameter.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2007
Ausgewählte Ausführung:
Basic specification for optical fibre amplifier test methods - Part 4-1: Test methods for analogue parameters; Gain-slope by broad-band source test method.
(Lichtwellenleiter - Verstärker; Grundspezifikation für Prüfverfahren - Teil 4-1: Prüfverfahren für analoge Parameter; Messung der Verstärkungssteigung mit breitbandiger Quelle.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.1999
Ausgewählte Ausführung:
Optical amplifiers - test methods - Part 4-1: Gain transient parameters - Two-wavelength method.
(Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 4-1: Prüfverfahren für Transientenparameter - Messung des Verstärkungsverhaltens, Zwei-Wellenlängen-Verfahren.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2010
Ausgewählte Ausführung:
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-1: Gain transient parameters - Two-wavelength method.
(Lichtwellenleiter-Verstärker - Prüfverfahren - Teil 4-1: Transiente Verstärkerparameter - Zwei-Wellenlängen-Verfahren.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2012
Ausgewählte Ausführung:
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-1: Gain transient parameters - Two-wavelength method.
(Lichtwellenleiter-Verstärker - Prüfverfahren - Teil 4-1: Transiente Verstärkerparameter - Zwei-Wellenlängen-Verfahren.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2015
Ausgewählte Ausführung:
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method.
(Lichtwellenleiter-Verstärker - Prüfverfahren - Teil 4-2: Parameter der transienten Verstärkung - Breitbandquellen-Verfahren.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2009
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-06-28 (Zahl der Positionen: 2 284 473)
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