Normen DIN - Deutsche nationale Normen - Seite Nr. 17676

Measurement Method of a Half-Wavelength Voltage for Mach-Zehnder Optical Modulator in Wireless Communication and Broadcasting Systems.
(Messverfahren von Halbwellenlängenspannungen und Chirp-Parameter für Mach-Zehnder-Modulatoren in drahtlosen Kommunikations- und Rundfunksystemen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2014

Measurement Method of a Half-Wavelength Voltage and a Chirp Parameter for Mach-Zehnder Optical Modulator in High-Frequency Radio on Fibre (RoF) Systems.
(Messverfahren von Halbwellenlängenspannungen und Chirp-Parameter für Mach-Zehnder-Modulatoren bei HF-Rundfunk-über-Glasfaser-Übertragungssystemen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2015

Measurement methods of a half-wavelength voltage and a chirp parameter for Mach-Zehnder optical modulators in high-frequency radio on fibre (RoF) Systems.
(Messverfahren für Halbwellenlängenspannungen und Chirp-Parameter für optische Mach-Zehnder-Modulatoren in HF-Rundfunk-über-Glasfaser-Übertragungssystemen (RoF).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2018

Measurement Method of a Frequency Response of Optical-to-Electric Conversion Device in High-Frequency Radio on Fiber Systems.
(Messverfahren einer Frequenzantwort eines optisch-elektrischen Wandlers in HF-Rundfunk-über-Glasfaser-Übertragungssystemen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2015

Transmitting equipment for radiocommunication - Frequency response of optical-to-electric conversion device in high-frequency radio over fibre systems - Measurement method.
(Funksendeanlagen - Frequenzantwort eines optisch-elektrischen Wandlers in HF-Rundfunk-über-Glasfaser-Übertragungssystemen - Messverfahren.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2017

VDE V 0126-37-1. Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon.
(VDE V 0126-37-1. Photovoltaik(PV)-Module - Prüfverfahren für die Erkennung von spannungsinduzierter Degradation - Teil 1: Kristallines Silicium.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2017

VDE 0126-37. System voltage durability qualification test for crystalline silicon modules.
(VDE 0126-37. Systemspannungsbeständigkeit-Befähigungsprüfung für kristalline Silicium-Module.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2013

VDE 0126-4-20. Method for measuring photovoltaic (PV) glass - Part 1: Measurement of total haze and spectral distribution of haze.
(VDE 0126-4-20. Verfahren zur Messung von photovoltaischem (PV) Glas - Teil 1: Messung der gesamten Trübung und der spektralen Verteilung der Trübung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2016

VDE 0126-4-21. Method for measuring photovoltaic (PV) glass - Part 2: Measurement of transmittance and reflectance.
(VDE 0126-4-21. Verfahren zur Messung von photovoltaischem (PV) Glas - Teil 2: Messung von Transmissionsgrad und Reflexionsgrad.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2016

Hybrid cables - Part 1: Hybrid telecommunication cables.
(Hybridkabel - Teil 1: Hybrid-Fernmeldekabel.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2015