Normen DIN - Deutsche nationale Normen - Seite Nr. 17749

Methodology for determining the functionality of detectors - Part 1: Passive infra-red detectors for presence and motion detection.
(Verfahren für die Bestimmung der Funktionalität von Meldern - Teil 1: Passive Infrarotmelder für die Bewegungs- und Präsenzmeldung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.2019

LCD multi-screen display terminals - Part 2: Measuring methods.
(LCD Multi-Screen Anzeigeterminals - Teil 2: Messverfahren.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2019

Magnetic powder cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 1: General specification.
(Magnetische Pulverkerne - Leitlinien zu Maßen und Grenzen von Oberflächenbeschädigungen - Teil 1: Allgemeine Festlegung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2019

Magnetic powder cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 2: Ring-cores.
(Magnetische Pulverkerne - Leitlinien zu Maßen und Grenzen von Oberflächenbeschädigungen - Teil 2: Ringkerne.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2019

Magnetic powder cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 3: E-cores.
(Magnetische Pulverkerne - Leitlinien zu Maßen und Grenzen von Oberflächenbeschädigungen - Teil 3: E-Kerne.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.3.2022

Magnetic powder cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 4: Block-cores.
(Magnetpulverkerne - Richtlinien zu Maßen und Grenzen von Oberflächenbeschädigungen - Teil 4: Blockkerne.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2021

Magnetic powder cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 5: Cylinder-cores ; Text in English.
(Magnetische Pulverkerne - Leitlinien zu Maßen und Grenzen von Oberflächenbeschädigungen - Teil 5: Zylinderkerne ; Text Englisch.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2021

Balanced-type circular disk resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric substrates.
(Verfahren mit symmetrischem Kreisscheibenresonator zur Messung der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Substraten.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2018

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method.
(Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2022

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method.
(Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.3.2025