Deutsche - Sonstiges - Seite Nr. 2316

Ansicht DIN EN 60747-5-5:2011-11 1.11.2011

DIN EN 60747-5-5:2011-11 UNGÜLTIG

VDE 0884-5. Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
(VDE 0884-5. Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2011

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Ansicht DIN EN 60747-5-5:2015-11 1.11.2015

DIN EN 60747-5-5:2015-11 UNGÜLTIG

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2015

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Ansicht E DIN EN 60747-5-5:2017-03 1.3.2017

E DIN EN 60747-5-5:2017-03 UNGÜLTIG

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.3.2017

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Ansicht E DIN EN 60747-5-5/A1:2011-12 1.12.2011

E DIN EN 60747-5-5/A1:2011-12 UNGÜLTIG

VDE 0884-5/A1. Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
(VDE 0884-5/A1. Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.12.2011

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Ansicht E DIN IEC 60747-5:1996-10 1.10.1996

E DIN IEC 60747-5:1996-10 UNGÜLTIG

VDE 0884. Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices.
(VDE 0884. Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5: Optoelektronische Bauelemente.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.1996

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Ansicht E DIN EN 60749-17:2018-07 1.7.2018

E DIN EN 60749-17:2018-07 UNGÜLTIG

VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
(VDE 0884-749-17. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2018

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Ansicht DIN EN 60749-26:2014-09 1.9.2014

DIN EN 60749-26:2014-09 UNGÜLTIG

VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(VDE 0884-749-26. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2014

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Ansicht E DIN EN 60749-26:2017-07 1.7.2017

E DIN EN 60749-26:2017-07 UNGÜLTIG

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2017

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Ansicht DIN EN 60749-28:2018-02 1.2.2018

DIN EN 60749-28:2018-02 UNGÜLTIG

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2018

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