VDE 0848-226-3-1. Exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range - Methods for calculating the current density and internal electric field induced in the human body - Part 3-1: Exposure to electric fields - Analytical and 2D numerical models.
(VDE 0848-226-3-1. Sicherheit in elektrischen oder magnetischen Feldern im niedrigen und mittleren Frequenzbereich - Verfahren zur Berechnung der induzierten Körperstromdichte und des im menschlichen Körpers induzierten elektrischen Feldes - Teil 3-1: Exposition gegenüber elektrischen Feldern - Analytische Modelle und numerische 2D-Modelle.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2007

VDE 0848-226-3-1. Exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range - Methods for calculating the current density and internal electric field induced in the human body - Part 3-1: Exposure to electric fields - Analytical and 2D numerical models.
(VDE 0848-226-3-1. Sicherheit in elektrischen oder magnetischen Feldern im niedrigen und mittleren Frequenzbereich - Verfahren zur Berechnung der induzierten Körperstromdichte und des im menschlichen Körper induzierten elektrischen Feldes - Teil 3-1: Exposition gegenüber elektrischen Feldern - Analytische Modelle und numerische 2D-Modelle.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2008

VDE 0848-226-3-1/A1. Exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range - Methods for calculating the current density and internal electric field induced in the human body - Part 3-1: Exposure to electric fields - Analytical and 2D numerical models.
(VDE 0848-226-3-1/A1. Sicherheit in elektrischen oder magnetischen Feldern im niedrigen und mittleren Frequenzbereich - Verfahren zur Berechnung der induzierten Körperstromdichte und des im menschlichen Körpers induzierten elektrischen Feldes - Teil 3-1: Exposition gegenüber elektrischen Feldern - Analytische Modelle und numerische 2D-Modelle.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2016

VDE 0847-28-1. Integrated Circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 1: General conditions and definitions.
(VDE 0847-28-1. Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Festlegungen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2017

VDE 0847-28-2. Integrated circuits - EMC evaluation of LIN transceivers.
(VDE 0847-28-2. Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von LIN-Sende-Empfangsgeräten.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2015

VDE 0847-28-3. Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 3: CAN transceivers.
(VDE 0847-28-3. Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2017

VDE 0847-28-5. Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 5: Ethernet transceivers.
(VDE 0847-28-5. Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 5: Ethernet-Sende-Empfangsgerät.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2019

VDE 0847-28-6. Integrated circuit - EMC Evaluation of transceivers - Part 6: PSI5 transceivers.
(VDE 0847-28-6. Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 6: PSI5-Transceiver.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2023

VDE 0847-28-7. Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 7: CXPI transceivers.
(VDE 0847-28-7. Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 7: CXPI-Sende-Empfangsgeräte.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2019

VDE 0481-2230. Electric cables - Spark-test method.
(VDE 0481-2230. Kabel und isolierte Leitungen - Durchlaufspannungsprüfung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2008