VDE 0042-2. Environmentally Conscious Design for electrical and electronic products and systems.
(VDE 0042-2. Umweltbewusstes Gestalten von elektrischen und elektronischen Produkten und Systemen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2007

VDE 0042-2. Environmentally conscious design for electrical and electronic products.
(VDE 0042-2. Umweltbewusstes Gestalten von elektrischen und elektronischen Produkten.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2010

VDE 0847-33-1. Integrated circuits - EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework.
(VDE 0847-33-1. Integrierte Schaltungen - EMV-IC-Modellierung - Teil 1: Allgemeine Modellierungsstruktur.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2017

VDE 0847-33-2. EMC IC modelling - Part 2: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE).
(VDE 0847-33-2. EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2015

VDE 0847-33-3. EMC IC modelling - Part 3: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE).
(VDE 0847-33-3. EMV-IC-Modellierung - Teil 3: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung von abgestrahlten Aussendungen (ICEM-RE).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2015

VDE 0847-33-4. EMC IC modelling - Part 4: Models of Integrated Circuits for RF immunity behavioural simulation - Conducted Immunity modelling (ICIM-CI).
(VDE 0847-33-4. EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2015

VDE 0847-33-6. EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for Pulse immunity behavioural simulation - Conducted Pulse Immunity (ICIM-CPI).
(VDE 0847-33-6. EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2017

VDE 0884-135-3. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 3: Data.
(VDE 0884-135-3. Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Bauteile - Teil 3: Daten.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2018

VDE 0847-35-4. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage.
(VDE 0847-35-4. Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 4: Lagerung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2017

VDE 0884-135-6. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 6: Packaged or Finished Devices.
(VDE 0884-135-6. Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 6: Bauelemente in Gehäusen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2017