VDE 0435-2027-6. Electrical relays - Tests and measurements - Part 6: Contact-circuit resistance or voltage drop.
(VDE 0435-2027-6. Elektrische Relais - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6: Kontaktkreiswiderstand (oder Spannungsabfall).)

Die Norm herausgegeben am 1.11.2025

VDE 0435-2027-7. Electrical relays - Tests and measurements - Part 7: Functional tests.
(VDE 0435-2027-7. Elektrische Relais - Mess- und Prüfverfahren - Teil 7: Funktionsprüfungen.)

Die Norm herausgegeben am 1.11.2025

VDE 0435-2027-8. Electrical relays - Tests and measurements - Part 8: Timing.
(VDE 0435-2027-8. Elektrische Relais - Mess- und Prüfverfahren - Teil 8: Zeitplan.)

Die Norm herausgegeben am 1.9.2025

VDE 0435-2027-9. Electrical relays - Tests and measurements - Part 9: Climatic tests.
(VDE 0435-2027-9. Elektrische Relais - Mess- und Prüfverfahren - Teil 9: Klimaprüfungen.)

Die Norm herausgegeben am 1.10.2025

VDE 0831-668. Railway applications - Signalling and control systems for non UGTMS Urban Rail systems (Fast track).
(VDE 0831-668. Bahnanwendungen - Signal- und Zugsicherungssysteme für städtische Schienenbahnen ohne UGTMS (Fast track).)

Die Norm herausgegeben am 1.1.2025

VDE 0711-700-1. Horticultural lighting - Luminaires for horticultural lighting - Safety.
(VDE 0711-700-1. Pflanzenbaubeleuchtung - Leuchten für Pflanzenbaubeleuchtung - Sicherheit.)

Die Norm herausgegeben am 1.8.2026

VDE 0884-3550-1. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices.
(VDE 0884-3550-1. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen.)

Die Norm herausgegeben am 1.5.2026

VDE 0884-3550-2. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices.
(VDE 0884-3550-2. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen.)

Die Norm herausgegeben am 1.5.2026

VDE 0884-3550-3. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 3: Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices.
(VDE 0884-3550-3. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen.)

Die Norm herausgegeben am 1.5.2026

VDE 0884-3550-4. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 4: Evaluation method of asymmetry in memristor devices.
(VDE 0884-3550-4. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen.)

Die Norm herausgegeben am 1.5.2026