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Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Die Norm herausgegeben am 15.9.2017
Ausgewählte Ausführung:Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Änderung herausgegeben am 3.6.2022
Ausgewählte Ausführung:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Die Norm herausgegeben am 3.6.2022
Ausgewählte Ausführung:
Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
(Connecteurs de raccordement a basse tension pour unites de stockage d´energie amovibles)
Die Norm herausgegeben am 10.7.2026
Ausgewählte Ausführung:
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Die Norm herausgegeben am 24.6.2020
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Die Norm herausgegeben am 30.1.2019
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Die Norm herausgegeben am 30.1.2019
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)
Die Norm herausgegeben am 13.7.2020
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Die Norm herausgegeben am 27.7.2022
Ausgewählte Ausführung:Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security
Die Norm herausgegeben am 20.5.2019
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-09-11 (Zahl der Positionen: 2 300 165)
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