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IEC/TR 63065-ed.1.0

Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

Die Norm herausgegeben am 15.9.2017

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374.60


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IEC/TR 63065-ed.1.0/Amd.1 Änderung

Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

Änderung herausgegeben am 3.6.2022

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25.40


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IEC/TR 63065-ed.1.1+Amd.1-CSV

Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

Die Norm herausgegeben am 3.6.2022

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692.10


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IEC 63066-ed.1.0

Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
(Connecteurs de raccordement a basse tension pour unites de stockage d´energie amovibles)

Die Norm herausgegeben am 10.7.2026

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482.60


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IEC 63067-ed.1.0

Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)

Die Norm herausgegeben am 24.6.2020

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203.20


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IEC 63068-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

Die Norm herausgegeben am 30.1.2019

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IEC 63068-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection

Die Norm herausgegeben am 30.1.2019

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IEC 63068-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)

Die Norm herausgegeben am 13.7.2020

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266.70


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IEC 63068-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence

Die Norm herausgegeben am 27.7.2022

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203.20


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IEC/TR 63069-ed.1.0

Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security

Die Norm herausgegeben am 20.5.2019

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266.70


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