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IEC/SRD 63268-ed.1.0

Energy and data interfaces of users connected to the smart grid with other smart grid stakeholders - Standardization landscape

Die Norm herausgegeben am 29.10.2020

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495.10


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IEC 63269-ed.1.0

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results
(Materiels et systemes de navigation et de radiocommunication maritimes - Dispositifs de localisation des survivants en mer (dispositifs en cas d´homme a la mer) - Exigences minimales, methodes d´essai et resultats d´essai exiges)

Die Norm herausgegeben am 25.5.2022

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436.40


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IEC 63270-1-ed.1.0

Predictive maintenance of industrial automation equipment and systems - Part 1: General requirements
(Maintenance predictive des equipements et systemes d´automatisation industrielle - Partie 1: Exigences generales)

Die Norm herausgegeben am 17.4.2025

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384.30


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IEC 63272-ed.1.0

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Die Norm herausgegeben am 7.8.2024

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436.40


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IEC/SRD 63273-1-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Die Norm herausgegeben am 25.8.2023

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495.10


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IEC/SRD 63273-2-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Die Norm herausgegeben am 3.4.2024

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560.20


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IEC/TR 63274-ed.1.0

Power consumption of high dynamic range television sets

Die Norm herausgegeben am 5.3.2021

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384.30


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IEC 63275-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Die Norm herausgegeben am 21.4.2022

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104.20


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IEC 63275-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Methode d’essai de la degradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinseque)

Die Norm herausgegeben am 11.5.2022

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52.10


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IEC/TS 63276-ed.1.0

Guidelines for the hosting capacity evaluation of distribution networks for distributed energy resources

Die Norm herausgegeben am 17.9.2024

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273.60


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Angezeigter Eintrag von 11110 bis 11120 aus gesamt 11545 Einträgen.


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