IEC - Alle - Seite Nr. 1117

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium)

Die Norm herausgegeben am 21.4.2022

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IEC 63286-ed.1.0

Flexible organic light emitting diode (OLED) panels for general lighting - Performance requirements
(Panneaux a diodes electroluminescentes organiques (OLED) flexibles destines a l´eclairage general - Exigences de performance)

Die Norm herausgegeben am 28.9.2022

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IEC 63287-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices generiques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 1: Lignes directrices concernant la qualification de la fiabilite des circuits integres)

Die Norm herausgegeben am 25.8.2021

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IEC 63287-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilite - Partie 2: Concept de profil de mission)

Die Norm herausgegeben am 29.3.2023

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