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IEC 60747-14-5-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 14-5: Capteurs a semiconducteurs - Capteur de temperature a semiconducteurs a jonction PN)

Die Norm herausgegeben am 11.2.2010

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149.10


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IEC 60747-15-ed.3.0

Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 15: Dispositifs discrets - Dispositifs de puissance a semiconducteurs isoles)

Die Norm herausgegeben am 22.10.2024

Ausgewählte Ausführung:

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434.30


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IEC 60747-15-ed.3.0-RLV

Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices

Die Norm herausgegeben am 22.10.2024

Ausgewählte Ausführung:

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739.00


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IEC 60747-16-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-1: Circuits integres hyperfrequences - Amplificateurs)

Die Norm herausgegeben am 20.11.2001

Ausgewählte Ausführung:

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382.50


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IEC 60747-16-1-ed.1.0/Amd.1 Änderung

Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-1: Circuits integres hyperfrequences - Amplificateurs)

Änderung herausgegeben am 26.1.2007

Ausgewählte Ausführung:

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149.10


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IEC 60747-16-1-ed.1.0/Amd.2 Änderung

Amendment 2 - Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
(Amendement 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-1: Circuits integres hyperfrequences - Amplificateurs)

Änderung herausgegeben am 15.2.2017

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25.90


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IEC 60747-16-1-ed.1.1+Amd.1-CSV

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers

Die Norm herausgegeben am 13.3.2007

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920.50


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IEC 60747-16-1-ed.1.2+Amd.1+Amd.2-CSV

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-1: Circuits integres hyperfrequences - Amplificateurs)

Die Norm herausgegeben am 15.2.2017

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972.40


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IEC 60747-16-10-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-10: Format-cadre pour agrement de technologie (TAS) pour circuits integres monolithiques hyperfrequences)

Die Norm herausgegeben am 15.7.2004

Ausgewählte Ausführung:

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434.30


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IEC 60747-16-11-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-11: Microwave integrated circuits - Power detectors

Die Norm herausgegeben am 9.4.2026

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337.10


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