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IEC 62433-3-ed.1.0

EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE)
(Modeles de circuits integres pour la CEM - Partie 3: Modeles de circuits integres pour la simulation du comportement lors de perturbations electromagnetiques - Modelisation des emissions rayonnees (ICEM-RE))

Die Norm herausgegeben am 27.1.2017

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528.70


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IEC/TR 62433-4-1-ed.1.0

EMC IC modelling - Part 4-1: Use of ICIM-CI model to predict the IC conducted immunity in a PCB

Die Norm herausgegeben am 26.8.2025

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339.40


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IEC 62433-4-ed.1.0

EMC IC modelling - Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation - Conducted immunity modelling (ICIM-CI)
(Modeles de circuits integres pour la CEM - Partie 4: Modeles de circuits integres pour la simulation du comportement d´immunite aux radiofrequences - Modelisation de l´immunite conduite (ICIM-CI))

Die Norm herausgegeben am 25.5.2016

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528.70


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IEC 62433-6-ed.1.0

EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI)
(Modeles de circuits integres pour la CEM - Partie 6: Modeles de circuits integres pour la simulation du comportement d´immunite aux impulsions - Modelisation de l´immunite aux impulsions conduite (ICIM-CPI))

Die Norm herausgegeben am 22.9.2020

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437.30


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IEC/TR 62434-ed.1.0

pH measurements in difficult media - Definitions, standards and procedures

Die Norm herausgegeben am 13.3.2006

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274.10


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IEC 62435-1-ed.1.0

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1: General
(Composants electroniques - Stockage de longue duree des dispositifs electroniques a semiconducteurs - Partie 1: Generalites)

Die Norm herausgegeben am 20.1.2017

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339.40


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IEC 62435-2-ed.1.0

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
(Composants electroniques - Stockage de longue duree des dispositifs electroniques a semiconducteurs - Partie 2: Mecanismes de deterioration)

Die Norm herausgegeben am 24.1.2017

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150.10


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IEC 62435-3-ed.1.0

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 3: Data
(Composants electroniques - Stockage de longue duree des dispositifs electroniques a semiconducteurs - Partie 3 : Donnees)

Die Norm herausgegeben am 18.2.2020

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104.40


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IEC 62435-4-ed.1.0

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage
(Composants electroniques - Stockage de longue duree des dispositifs electroniques a semiconducteurs - Partie 4: Stockage)

Die Norm herausgegeben am 5.6.2018

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150.10


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IEC 62435-5-ed.1.0

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 5: Die and wafer devices
(Composants electroniques - Stockage de longue duree des dispositifs electroniques a semiconducteurs - Partie 5: Dispositifs de puces et plaquettes)

Die Norm herausgegeben am 20.1.2017

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208.90


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