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IEC 60352-7-ed.3.0

Solderless connections - Part 7: Spring clamp connections - General requirements, test methods and practical guidance
(Connexions sans soudure - Partie 7: Connexions a ressort - Exigences generales, methodes d’essai et guide pratique)

Die Norm herausgegeben am 9.1.2026

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335.10


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IEC 60352-7-ed.3.0-RLV

Solderless connections - Part 7: Spring clamp connections - General requirements, test methods and practical guidance

Die Norm herausgegeben am 9.1.2026

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569.60


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IEC 60794-1-131-ed.1.0

Optical fibre cables - Part 1-131: Generic specification - Basic optical cable test procedures - Mechanical tests methods - Microduct inner clearance test, Method E31
(Cables a fibres optiques - Partie 1-131: Specification generique - Procedures fondamentales d’essais des cables optiques - Methodes d’essais mecaniques - Essai de jeu interne du microconduit, Methode E31)

Die Norm herausgegeben am 7.1.2026

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25.80


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IEC 60825-12-ed.3.0/Cor.2 Korrektur

Corrigendum 2 - Safety of laser products - Part 12: Safety of free space optical communication systems used for transmission of information
(Corrigendum 2 - Securite des appareils a laser - Partie 12: Securite des systemes de communication optiques en espace libre utilises pour la transmission d´informations)

Korrektur herausgegeben am 8.1.2026

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1.30


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IEC 60825-ed.1.0-SER

Safety of laser products - ALL PARTS

Die Norm herausgegeben am 8.1.2026

Ausgewählte Ausführung:
Englisch und Französisch -
Elektronische PDF (4213.00 EUR)


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4 213.00


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IEC 61869-20-ed.1.0/Cor.1 Korrektur

Corrigendum 1 - Instrument transformers – Part 20: Safety requirements of instrument transformers for high voltage applications
(Corrigendum 1 - Transformateurs de mesure – Partie 20 : Exigences de securite des transformateurs de mesure pour applications a haute tension)

Korrektur herausgegeben am 8.1.2026

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1.30


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IEC 62047-4-ed.2.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS

Die Norm herausgegeben am 7.1.2026

Ausgewählte Ausführung:

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148.20


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IEC 62047-4-ed.2.0-RLV

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS

Die Norm herausgegeben am 7.1.2026

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252.60


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IEC/TR 62316-ed.4.0

Guidance for the interpretation of OTDR backscattering traces for single-mode fibres

Die Norm herausgegeben am 8.1.2026

Ausgewählte Ausführung:

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270.60


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IEC/TR 62316-ed.4.0-RLV

Guidance for the interpretation of OTDR backscattering traces for single-mode fibres

Die Norm herausgegeben am 8.1.2026

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460.10


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